WBE-KSH1000/Hızlı Sıcaklık Değişimi Test Odası

Test parçası, sıcaklık stresi (ESS) testine, sıcaklık ve nem taramasına, güvenilirlik testine vb. tabi tutulabilir. Yaygın olarak kullanılan sıcaklık rampa hızları 5°C/dk, 10°C/dk, 15°C/dk, 20°C/dk ve 25°C/dk'dır.

Uygulama alanları:

Yarı iletken çipler, bilimsel araştırma kurumları, kalite kontrol, yeni enerji, optoelektronik iletişim, havacılık ve askeri sanayi, otomobil endüstrisi, LCD ekran, tıbbi ve diğer teknoloji endüstrileri.

Test standartları:

GB/T 2423.1 Düşük Sıcaklık Test Yöntemi, GJB 150.3 Yüksek Sıcaklık Test Yöntemi, GB/T 2423.2 Yüksek Sıcaklık Test Yöntemi, GJB 150.4 Düşük Sıcaklık Testi, GB/T2423.34 Nem Döngüsü Test Yöntemi, GJB 150.9 Nem Test Yöntemi, IEC60068-2 Sıcaklık ve Nem Test Yöntemi, MIL-STD-202G-103B Nem Test Yöntemi

Ürün Özellikleri:

1. Ürün hem doğrusal hem de doğrusal olmayan sıcaklık rampası gereksinimlerini karşılar.
2. 5 °C / dak ila 30 °C / dak arasındaki sıcaklık rampa hızı gereksinimlerini karşılar.
3. İsteğe bağlı özellikler arasında sıvı nitrojen, nemli ısı ve yoğuşma önleyici bulunur.
4. Elektronik genleşme valfi teknolojisini ve yenilikçi bir kontrol sistemini kullanan ürün, %45'i aşan enerji tasarrufu sağlar.